Avantgarde 液氮高低溫探針臺在科學(xué)研究和技術(shù)開發(fā)中發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。它能夠在低溫環(huán)境下對樣品進行各種非破壞性的物理性能和電學(xué)性能測試，幫助研究人員深入了解材料或者器件的各種物理性能和電學(xué)性能，從而為新材料的研發(fā)和應(yīng)用提供重要的數(shù)據(jù)支持。 

    PSM-LN2系列液氮高低溫探針臺能夠為半導(dǎo)體芯片的電學(xué)參數(shù)測試提供一個80K-800K高低溫真空測試環(huán)境，通過外接不同的電學(xué)測量儀器，可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及IV曲線等參數(shù)檢測，用于低溫真空環(huán)境下的芯片、晶圓和器件的非破壞性電學(xué)測試。

      （液氮低溫探針臺型號PSM-LN2）

     PSM-LN2液氮低溫探針臺突出的主要特點是：
    1、液氮高低溫真空探針臺，15分鐘內(nèi)腔體真空度可達到 10E-4torr，液氮消耗量小,降到最低溫度只需0.2L液氮，使用方便快捷同時兼顧經(jīng)濟性。
    2、探針臂的位移調(diào)節(jié)在真空腔外操作，可以在不破壞真空 的情況下，切換樣品上的不同器件進行測試。
    3、獨特的探針臂 X-Y-Z-R四維調(diào)節(jié)，能滿足最大4英寸樣品的測試。
    4、真空腔材質(zhì)為鋁制材料，能夠有效減小外界的電磁干擾，提高測試的精準(zhǔn)度和穩(wěn)定性
    5、探針臂采用三同軸接頭，漏電性能好，實測漏電流小于100fA @1V@80K--800K
    6、測試溫度范圍寬，最大支持80K-800K連續(xù)變溫。
    7、上蓋采用翻蓋結(jié)構(gòu)，換樣更便捷。